YASKAWA(安川)) JANCD-XIO01
數(shù)字輸入模件
備有下列各種數(shù)字輸入模件:
型號(hào) 電壓 型號(hào)
3501E/T 115VAC/VDC TMR
3502E 48VAC/VDC TMR 帶自測(cè)試
3503E 24VAC/VDC TMR 帶自測(cè)試
3505E 24VDC TMR 低門檻電壓
3504E 24/48VDC TMR高密度
3564 24VDC 簡(jiǎn)易型,64點(diǎn)
每個(gè)數(shù)字輸入模件有著三條隔離的輸入分電路,它們獨(dú)立地處理所有輸入給模件的數(shù)據(jù)。每 支路上的微處理器掃描每個(gè)輸入點(diǎn)、編輯各數(shù)據(jù),并將這傳送給主處理器。然后,輸入數(shù)據(jù)在送給主處理器處理之前進(jìn)行表決,這樣以保證其 大的統(tǒng) 性。
全部數(shù)字輸入模件對(duì)每 分電路保持著完全的持續(xù)性的診斷。任 分電路上的診斷到故障時(shí),將點(diǎn)亮模件上的FAULT指示器,進(jìn)而再觸發(fā)機(jī)架的報(bào)警信號(hào)。FAULT燈點(diǎn)亮只說(shuō)明某個(gè)通道上有故障,并不是模件故障。模件能在某些故障存在的情況下繼續(xù)容錯(cuò)正常運(yùn)行。
帶自測(cè)試的TMR數(shù)字輸入模件具有連續(xù)地檢測(cè)Tricon正常得電電路躍變到OFF狀態(tài)的能力。
高密度數(shù)字輸入模件具有連續(xù)地檢測(cè)Tricon電路躍變到反向狀態(tài)的能力。
簡(jiǎn)易型數(shù)字輸入模件優(yōu)化用于低成本比 大利用率更為重要的關(guān)鍵安全場(chǎng)合。在簡(jiǎn)易型模件上,只有那些保證安全運(yùn)行所需的信號(hào)通路部分才被三重化。具有專門的自測(cè)試電路,用不足500微秒的時(shí)間能檢測(cè)“ON”粘住和“OFF”粘住故障。這是故障安全系統(tǒng)的必備特性,它必須能及時(shí)地檢測(cè)出所以的故障,并在檢測(cè)到有輸入故障時(shí),把測(cè)量輸入值強(qiáng)制在安全狀態(tài)。因?yàn)門ricon更適合用于“去磁跳閘”系統(tǒng),所以在輸入電路中發(fā)現(xiàn)故障時(shí)就能把各分電路的值強(qiáng)制在“OFF”( 去磁的)狀態(tài)。
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★ 公司名:廈門興銳嘉進(jìn)出口有限公司
★ 聯(lián)系人:劉工
★ 電話:0592-2350643/15359254348
★ 傳真:0592-5580710
★ 業(yè)務(wù)QQ:923584346,1903454598
★ Email:1903454598@qq.com
主營(yíng):FOXBORO,AB、ABB、Scheneider、Siemens、FANUC,安川,GE
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所有各種數(shù)字輸入模件在功能上都支持熱備功能,它允許在線更換故障模件,或作為工作模件的后備。
和所有I/O模件 樣,數(shù)字輸入模件需要有 電纜連接到位於遠(yuǎn)處的外部端子板。每個(gè)模件都帶有機(jī)械鍵鎖,以避免錯(cuò)誤安裝。
3.1.1TMR數(shù)字入模件的規(guī)格。
圖3—1 TMR數(shù)字輸入模件的前面板
圖3-2 TMR數(shù)字輸入模件VDC簡(jiǎn)圖
型號(hào):3501E/T — 115VAC/VDC
TMR數(shù)字輸入模件,115VAC/VDC(#3501E和#3501T型)
色標(biāo) 紅
輸入點(diǎn)數(shù) 32,非公共的,隔離的
推薦輸入范圍 90-155VAC/VDC
大電壓 155VAC/VDC
開(kāi)關(guān)電平
OFF到ON 69VAC/VDC,典型的; 壞情況為86VAC/VDC
OV到OFF 36VAC/VDC,典型的; 壞情況為28VAC/VDC
典型回差 32VAC/VDC
閉合 3mA到9mA
輸入阻抗 >8.5kΩ,額定
輸入延遲
OFF到ON <8ms
ON到OFF <15ms
點(diǎn)隔離(光電隔離) 100VAC 小;1500VDC 小
狀態(tài)指示燈
ON或OFF態(tài) 每點(diǎn)1個(gè)
模件狀態(tài) PASS,F(xiàn)AULT,ACTIVE
邏輯功率 <10瓦
標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)場(chǎng)電源負(fù)載 每 ON點(diǎn)1.5瓦;2.9瓦,在 大現(xiàn)場(chǎng)電壓下
向機(jī)架的漏電流,60Hz時(shí) 大1mA/每ON點(diǎn)
輸入診斷故障覆蓋率1
大輸入觸發(fā)率 每100ms
小輸入觸發(fā)率 每3個(gè)月
故障診斷周期 不適用
1. 大輸入觸發(fā)率可使I/O診斷正常地運(yùn)行,探測(cè)出所有正常地可測(cè)出的故障。 小觸發(fā)率給出 故障蓋率,可以覆蓋在模件的計(jì)算出的平均故障間隔時(shí)間(MTBF)的百分之十以內(nèi)的正常不可探測(cè)到的故障。