快速溫度變化試驗箱技術(shù)參數(shù)

、溫度波動度：±1℃

2、溫度范圍：高溫箱：RT～150℃、低溫箱：RT~-20℃

3、溫度誤差：±3℃

4、降溫速率：從常溫～-20℃≤15min;(全程平均)

5、升溫速率：從常溫～150℃≤25min;(全程平均)

6、預冷下限溫度：≤-25℃；(過冷度≤-5℃)

7、沖擊溫度：150℃～-20℃

8、高低溫沖擊試驗箱溫度恢復時間：≤5min

9、樣品提籃有效尺寸：320×320mm

10、電源：380V±38V　50Hz±1Hz

11、功率：7KW

12、負載：≤20kg

13、溫度范圍：-20℃~150℃ 、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃

14、樣品架轉(zhuǎn)換時間：≤15s
 

 快速溫度變化試驗箱技術(shù)參數(shù)

主要用途

　　冷熱沖擊試驗機能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預測和改進產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。用于檢測電子、汽車、橡膠、塑膠、航天科技、電子科技及高 通信器材等產(chǎn)品在反復冷熱變化下的抵抗能力。

滿足以下標準：

　　GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分：試驗方法試驗A：低溫

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分：試驗方法試驗B：高溫

　　GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

　　GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 3部分：高溫試驗

　　GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 4部分：低溫試驗

　　GJB150.5A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 5部分：溫度沖擊試驗

　　GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法方法107溫度沖擊試驗