電子器件的靜電電阻在下降，靜電控制電壓也在下降。現在可以通過高精度測量 100V 或以下的電荷，從 0.1V 開始測量，這是傳統型號難以測量的。此外，通過縮小測量區域，可以測量 LSI 封裝表面等狹窄區域。
特征
您可以測量導致靜電破壞的低電位靜電。
添加了新的量程切換功能，可以測量微小的電位。
通過縮短測量距離，可以縮小測量區域，測量約20平方毫米的面積，可以高精度測量小型電子設備的表面電位。
顯示器和探測器是分開的，這樣您就可以在狹窄的空間內進行測量，并看到手邊的測量值。
從小型電子元件的測量，可以測量寬物體的電位分布。
您可以在峰值保持測量和連續測量之間切換。
它具有內置的檢測傳感器故障診斷電路，并在發生故障時顯示。（專利）
它具有睡眠模式功能，可防止因忘記關閉電源而導致電池消耗。
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